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CST-50冲击试样缺口投影仪

图片来源:www.auditcasts.com   作者:迈捷编辑   发布时间:2015-02-07 14:57   浏览次数:

性能说明

◆该投影仪是根据GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。
技术指标

◆投影屏直径:180mm
◆工作台尺寸:方工作台尺寸:110X125mm
◆方工作台直径90mm
◆工作台玻璃直径:70mm
◆工作台行程:纵向:±10mm;横向:±10mm升降±12mm
◆工作台转动范围:0-360°
◆仪器放大倍率:50X;物镜放大倍率;2.5X;投影物镜放大倍率;20X
◆光源(卤钨灯):12V  100W
◆电源:220V  50Hz